ОМИКРОН ОМИКРОН ОМИКРОН
Система Orphus

Замены комплектующих элементов в цифровых устройств релейной защиты

Замены комплектующих элементов в цифровых устройств релейной защиты

НТЦ «Механотроника» уделяет значительное внимание повышению качества и надежности выпускаемой продукции. При разработке новых изделий показатели надежности определяют расчетными методами [1], а для находящихся в эксплуатации изделий предприятие регулярно проводит контрольные испытания на надежность, которые позволяют на основании информации, получаемой от эксплуатирующих предприятий, оценить такие показатели надежности изделий, как наработка на отказ [2], гамма-процентный и средний срок сохраняемости [3, 4].

Для блоков, эксплуатируемых потребителями, выполняется анализ их надежности с указанием количества и типа отказавших элементов [5],
количества обращений потребителей и других характеристик.

Для оценки надежности блоков, находящихся в эксплуатации на предприятии внедрена методика оценки, ориентированная на учет числа обращений, приходящихся на 100 блоков [6]. По этой методике определяют количество обращений для:

- всех изделий, находящихся в эксплуатации;
- изделий, выпущенных в текущем году.

При этом, в отличие от методики, использованной для оценки наработки на отказ, были учтены все обращения, как признанные производителем обоснованными, так и отклоненные им.

График изменения этих показателей с 2009 по 2012 год представлен на рис. 1.

Рис. 1 Изменение числа обращений потребителей на 100 блоков

Предложенная в [6] методика была применена для анализа замен комплектующих элементов, выполненных при изготовлении, настройке и испытаниях, а также ремонте возвращенных изделий за январь-июль 2013 года.

В табл. 1 приведены сводные данные по заменам элементов разных типов. Для сокращения объема таблицы некоторые элементы объединены


 

Таблица 1 Информация о замене комплектующих элементов на 100 выпущенных блоков

ЭРЭ

Месяц

ИТОГО

январь

февраль

март

апрель

май

июнь

июль

Варисторы
(+вставки плавкие)

-

0,33

1,01

0,40

0,33

0,60

0,04

0,42

Диоды разные

0,46

0,41

0,14

0,32

0,12

0,94

0,26

0,36

Моточные изделия

0,54

0,52

0,22

0,87

0,42

0,60

0,60

0,53

Индикаторы

0,85

0,17

0,08

0,15

0,12

0,25

0,17

0,21

Конденсаторы

1,32

1,05

1,05

0,47

1,70

0,35

0,69

0,93

Микросхемы

2,64

1,57

2,88

2,34

3,81

2,97

2,09

2,52

Оптопары разные

0,15

0,03

0,04

0,36

0,13

-

0,04

0,10

Резисторы разные

1,16

0,66

0,75

0,08

1,70

0,99

2,35

1,19

Резонаторы

0,15

-

0,07

0,11

0,04

0,10

0,04

0,06

Реле

1,32

0,44

0,45

0,61

0,42

0,30

0,08

0,47

Транзисторы

1,48

1,81

0,63

0,98

0,68

2,72

-

1,17

Всего на 100 изделий

10,08

6,99

7,30

7,65

9,47

9,82

6,39

7,94


в группы. Так, в одну группу объединены конденсаторы и ионисторы (за рассматриваемый период было заменено всего 2 ионистора), варисторы и плавкая вставка (при отказе варистора  перегорает плавкая вставка), резисторы и резисторные сборки.

Также в одну группу «моточные изделия» объединены трансформаторы и дроссели.

Динамика замен для элементов всех типов на 100 выпущенных изделий в процессе производства, настройки и испытаний представлена на рис. 2.

Рис. 2 Количество замен элементов на 100 выпущенных цифровых устройств

        Среднее значение замен за рассматриваемый период составило 7,95 элемента на 100 выпущенных изделий.
Для удобства графического представления все элементы разделены на две группы по количеству замен.
Первую группу составили микросхемы, резисторы, транзисторы и конденсаторы (рис. 3), а вторую (рис. 4)  – реле, моточные изделия, диоды, индикаторы и варисторы (+плавкие вставки).
Вопреки распространенному мнению, наибольшее количество замененных в процессе производства, настройки и испытаний элементов в первой группе пришлось на микросхемы различных типов – 2,52 элемента на 100 изделий.
Относительное число замен конденсаторов существенно меньше – 0,93 на 100 блоков.
Во второй группе элементов наиболее заменяемыми оказались моточные изделия (0,53 на 100 блоков) и реле (0,47 на 100 блоков).
Меньше всего заменено таких элементов как резонаторы (0,06 на 100 блоков), оптопар и оптронов (0,10 на 100 блоков).
Непрерывный анализ заменяемых элементов позволяет оперативно контролировать их качество и принимать превентивные меры для замены поставщиков или наименее надежных элементов.
Одной из предпосылок для организации такого контроля послужил предусмотренный системой менеджмента качества порядок выдачи комплектующих для их замены в изделиях, отбракованных на участках сборки,
настройки, приемо-сдаточных испытаний и ремонта.

Рис. 3 Замены элементов первой группы

        В соответствии с процедурой элементы со склада выдают только на основании специального талона, в котором указывают наименование и заводской номер изделия, заменяемый в нем элемент и участок, где был выявлен элемент, подлежащий замене.

Рис. 3 Замены элементов второй группы

        Приведенные на рис. 2 и 3 графики позволяют выявить характер (случайный или систематический) отказов элементов тех или иных типов и номиналов, выпущенных различными предприятиями или приобретенными у разных поставщиков.
Для моточных изделий, поставляемых по кооперации, данный способ контроля позволяет обратить внимание изготовителей на те или иные скрытые недостатки выпускаемых ими изделий, которые нельзя выявить на входном контроле.
Литература

1. ДИВГ.648228.001 РР. Блок микропроцессорный релейной защиты БМРЗ. Расчет показателей надежности и контролепригодности. СПб. НТЦ «Механотроника», 1999, 72 с.
2. Гондуров С.А., Захаров О.Г.. Определение наработки на отказ по результатам эксплуатации [Электронный ресурс] // Всё о релейной защите. –2009. – Режим доступа : /article/read/Opredelenie-narabotkina-otkaz-po-rezul-tatam-ekspluatatsii--Gondurov-S-A---Zaharov-O-G-_77.html
3. Захаров О.Г. Оценка показателей сохраняемости цифровых устройств релейной защиты//СТА, № 2, 2013, С. 22,
4. Захаров О.Г. Оценка сохраняемости цифровых устройств релейной защиты. //Электронный ресурс «Всё о релейной защите». Режим доступа /article/read/Otsenka-pokazateley-sohranyaemosti---tsifrovih-ustroystv-releynoy-zashchiti--Zaharov-O-G-_119.html
5. Захаров О.Г. Показатели надёжности блоков частотной автоматики БМАЧР в цифрах и фактах//Электронный ресурс. Режим доступа: /article/read/Pokazateli-nad-zhnosti-blokov-chastotnoy-avtomatiki-BMACHR-v-tsifrah-i-faktah_80.html
6. Способ оценки надежности цифровых устройств релейной защиты //[Электронный ресурс]. Режим доступа::  /blog/a-43.html

В оформлении использован рисунок, размещенный здесь
http://images.yandex.ru/yandsearch?p=4&text=%D0%B7%D0%B0%D0%BC%D0%B5%D0%BD%D0%B0%20%D1%8D%D0%BB%D0%B5%D0%BC%D0%B5%D0%BD%D1%82%D0%B0%20%20%D0%BD%D0%B0%20%D0%BF%D0%B5%D1%87%D0%B0%D1%82%D0%BD%D0%BE%D0%B9%20%D0%BF%D0%BB%D0%B0%D1%82%D0%B5&img_url=http%3A%2F%2Fwww.mprofit.ru%2Fimg%2Fi4697_b.jpg&pos=122&uinfo=sw-1318-sh-633-fw-1093-fh-448-pd-1&rpt=simage

21 Август, 2013              3740              ]]>Печать]]>
4 / 16 ( Хорошо )

Последние комментарии : 1

watcher             Добавлен: 24 Июнь, 2014 03:36       Ответить
Вариант статьи опубликован на страницах журнала "Управление качеством" №6, 2014 год, с. 47. Сайт журнала http://panor.ru/journals/uprkach/new/index.php?ELEMENT_ID=103155

Добавить комментарий

Ваше имя

Текст

Контрольный вопрос

Dвa pлюs тpi ? (цифрой)


Вверх страницы